文章摘要
PCIe电气规范详细定义了Tx测试设置与测量方法，重点包括：
1）测试需通过Breakout Channel间接测量DUT引脚信号，并使用Replica Channel进行反嵌处理；
2）规范了差分电压、共模电压的测量标准及均衡系数的计算方法；
3）针对8.0/16.0/32.0GT/s速率引入基于FIR滤波器的均衡系数控制；
4）详细说明了EIEOS信号、封装损耗、发射抖动（含数据相关/非相关分量分离）等关键参数的测量方法；
5）规定了回波损耗的测试要求与限制曲线。
所有测量均需遵循特定码型重复和去嵌技术，以消除信道影响，确保结果精确反映芯片引脚特性。
#电子工程师必备#Tx测试设置

原文链接如下:
【PCIE5.0 学习笔记02：Tx发射端口物理层电气设计规范 - CSDN App】https://blog.csdn.net/2301_77080582/article/details/157363005?sharetype=blogdetail&shareId=157363005&sharerefer=APP&sharesource=2301_77080582&sharefrom=link