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徐海洋超声波检测技术学习笔记(十七)
超声波探伤仪与探头组合性能测试方法
本次课程围绕试块使用问题案例展开,并系统讲解了超声波检测仪器与探头主要技术指标的简易测试方法、标准规定及注意事项,旨在提升检测结果的准确性。
核心测试指标与方法
扫描基线精度
年检
使用BH-50型回波试块校准,偏差应≤1%
垂直线性与衰减器
年检/季核
验证1dB与6dB衰减器精度,误差≤满屏高度5%
动态范围与电噪声
年检
动态范围≥30dB,电噪声电平≤20%屏高
组合灵敏度与分辨率
新探头必测
灵敏度余量需达标,分辨率区分相邻缺陷能力
- 组合灵敏度:2.5PΦ20探头≥48dB,5PΦ14探头≥40dB
- 分辨率:纵波直探头≥20dB,横波斜探头≥12dB
盲区与频率误差
定期核查
盲区与频率反映探头近场与晶片特性
- 盲区:5MHz探头<10mm,2.5MHz探头<15mm
常见问题与误区
注意规避
试块声速不准、探头使用不当是主要误差来源
- 探头压力:标准建议1-2N,过大加剧磨损且影响耦合
核心结论:超声波探伤仪与探头的性能需按标准周期(年、半年、季度)进行严格校准与核查,重点关注扫描基线、衰减器精度、灵敏度及分辨率等指标。实际应用中,应警惕试块声速不准、探头使用不当(如过度施压、粘耐磨片)引入的误差,确保检测结果准确可靠。
围绕超声探伤的试块使用、探伤仪技术指标测试方法及探头使用等内容展开详细讲解,同时提出相关思考题引导思考行业问题,内容如下:
试块使用存在的问题
探头前沿长度异常:以GS系列试块为例,探伤人员测试 5P Φ 65P6×6K3 横波斜探头时,理论前沿长度为 6 毫米,实测为 11 毫米。原因是试块横波声速不对,导致入射点跑到压电晶片下边缘后面。
超声波检测仪器及探头技术指标测试
测试规定与周期
年度校准:每年至少对仪器与探头组合性能中的水平、线性、垂直、线性组合频率、灵敏度、余量分辨率盲区,主要做磁探头测试以及仪器衰减器的精度进行一次校准,并记录。
半年核查:数字超声波探伤仪每 6 个月至少对仪器与探头组合性能中的水平线性、垂直线性进行一次核查并记录。
季度核查:每三个月至少对仪器的灵敏度余量分辨率盲区(主要针对直探头)以及仪器衰减器的精度进行一次核查并记录。
新探头测试:新购置的超声波探头使用前需测试上述仪器探头的组合性能,斜探头还需确定入射点、前沿长度与折射角度(k 值)。
各项指标测试方法
扫描基线精度测试
测试准备:准备超声波探伤仪、BH - 50 型纵波直探头。
测试过程:设置仪器参数表有关参数,连接仪器与探头,调节显示范围,用闸门套住直探头第五次反射回波,利用试块 50 毫米厚度校准扫描基线。移动闸门分别套住各次反射回波,若仪器扫描基线精度有误差,读出误差值。GB 9214 标准规定扫描基线偏差小于等于 1%。
垂直线性测试
测试设备:超声波探伤仪、BH - 50 型回波直探头。
测试方法:连接仪器与探头,将第一次反射回波幅度调至基准高度 80%,记录仪器剩余可调灵敏度余量(大于 18 dB)。连续调整 1 dB 衰减器 6 次,观察回波高度是否从 80% 降到 40%、20%、10%,读出误差值与标准规定误差值(小于等于满屏高度的 5%)比较。
动态范围测试
测试设备:超声波探伤仪、DH - 50 纵波直探头。
测试方法:连接仪器与回波探头,用闸门套住某一次反射回波,用 0.1 dB 衰减器将反射回波幅度调至基准高度 100%,记录仪器灵敏度余量读数(剩余可调灵敏度余量大于 40 dB)。用 1 dB 衰减器将回波幅度从 100% 衰减,直到在扫描基线上还能看到反射回波峰值,衰减的 dB 数应大于 30 dB。
电噪声电平测试
测试标准:GB 9214 规定仪器电噪声电平应小于等于显示器垂直高度的 20%,以最高噪声乘以 70% 作为衡量标准。
测试方法:将衰减型仪器灵敏度余量调至 0,增益型仪器衰减器调至 110 dB,用闸门宽度调整与基线宽度一致,利用峰值搜索或波峰记忆功能记录最高噪声信号幅度,乘以 70% 后与 20% 比较判断仪器信噪比是否合格。
组合灵敏度测试
测试标准:用 2.5 P Ф 2 0 度直探头发现 200 毫米处 Ф 2 平底孔,平底孔反射回波高度达到基准高度 80% 时,仪器与探头组合灵敏度余量大于等于 48 dB;用 5P Ф 14 0 度直探头探测时,灵敏度余量大于 40 dB。
测试方法:用两只直探头分别探测 200 毫米处 Ф 20 平底孔,读取平底孔反射回波高度达到 80% 时仪器的灵敏度余量,与标准比较判断是否合格。
组合分辨率测试
测试规定:仪器与纵波直探头组合分辨率应大于 20,与横波斜探头组合分辨率应大于等于 12。
测试器材:超声波探伤仪、2.5 P Φ 20 0 度脉冲直探头、2.5 P 13×3K2、CSK - IA 标准试块。
直探头测试方法:移动探头将 CSK - IA 试块 85 和 91 平面反射回波高度调至满屏高度 80% 且一样高,记录灵敏度余量。调节衰减器使波谷高度调至 80%,比较两次灵敏度余量差值与 20 dB 的大小。
斜探头测试方法:用斜探头扫查 CSK - IA 试块 φ 50、φ 44 圆孔形成的阶梯,将反射回波高度调至满屏高度 80% 且一样高,记录灵敏度余量。调节衰减器使波峰到波谷高度从 100% 调至 80%,比较两次衰减器 DB 差值与 12 dB 的大小。
直探头盲区测试
测试标准:标称频率 5 兆的中波直探头盲区应小于 10 毫米,2.5 兆中波直探头盲区应小于 15 毫米。
测试器材:超声探伤仪、5 兆 4 零度纵波直探头、2.5 兆 4 零度纵波直探头、CSK -IA 标准试块。
测试方法:将两个直探头分别进行纵波扫描基线校准,量程调至 40 毫米,分别放在试块有机玻璃孔上面和左侧侧面,探测不同直径有机玻璃孔圆弧顶面,将反射回波幅度调至基准高度 80%,观察哪一个圆弧顶面反射回波离主和始波最近且能分开,将扫描基线下方显示的 s 值与标准值比较。
频率误差测试
测试标准:仪器与探头组合频率误差标准值为探头标称频率的 10%。
测试设备:超声波探伤仪、100 兆频带宽度示波器。
测试方法:连接探伤仪与示波器,用探头向被检工件或试块发射超声波获得反射回波,调节示波器显示底波扩展波形,读出反射回波前一个周期和后两个周期的时间,取倒数得到频率,计算频率相对误差与标准比较。
斜探头偏斜角测试
测试标准:部分标准规定斜探头偏斜角标准值为正负 2 度。
测试设备:超声波探伤仪、CSK - 1A 试块、使用的斜探头。
测试方法:将 1A 试块放倒,根据探头 k 值选择测试方式(k 值小于 1 用二次波,大于 1 用试块下棱角),移动探头使反射回波达到最高点,测量探头前端与试块边缘的角度,与标准值比较。
相关思考题与行业问题探讨
基础理论应用实例思考:思考超声波基础理论学习中未得到正确应用的案例,如在振动、扰射、材料均匀性、声压透射率、反射率等方面,通过分析案例提高对基础理论的理解和应用能力,进而提升探伤理论和技术水平。
制约超声检测技术发展问题思考:思考仪器探头试块部分学习中制约超声检测技术正确发展的问题,例如标准未规定直缝焊管超声波探伤校准试块时如何开展检测工作,以及在检测前如何调节仪器扫描基线和设置判据。
探头粘耐磨片影响思考:探讨给探头底面粘耐磨片的影响。一方面,探头施加压力过大易磨损,且压力会影响耦合效果;另一方面,耐磨片的声速、胶的透声性能以及与探头内部有机玻璃声速差异等因素,可能导致折射角度变化、透光率下降,不建议粘贴耐磨片。同时,制作探头的材料(如有机玻璃)需重新测试,压电晶体倾斜角度和粘贴胶特性也需不断修正。